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FlyTOF 飛行時間法遷移率測量系統

作者:東譜科技(廣州)有限責任公司 瀏覽: 發表時間:2021-01-18 09:00:00

FlyTOF

飛行時間法遷移率測量系統

Time-of-Flight Mobility Measurement System   

 

一、系統介紹


      FlyTOF飛行時間法遷移率測量系統是東譜科技HiTran瞬態綜合光電特性測量平台中的重要成員。該系統利用飛行時間法(time-of-flight, TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性,廣泛適用於各類半導體材料,如有機半導體、金屬-有機框架(metal-organic framework, MOF)、共價有機框架(covalent organic framework, COF)、鈣鈦礦材料等。FlyTOF系統是一款高度集成化的光電測試系統,配備便捷的上位機控製和數據測量軟件,可助力客戶進行快速、準確的測量。


二、產品特點

 

  • 專業的信號調教,電磁兼容噪聲小;
  • 軟件自動控製,測試快速便捷;
  • 快速換樣裝置,惰性氣體氛圍測試;
  • 可實現寬溫度範圍的變溫測試(選配);
  • 可靈活耦合各種類型的激發光源。  
  • 帶位移功能,方便對同一基片上的不同器件進行測試;
  • 所有光路均置於封閉暗箱內,無外界光源影響。



三、系統典型參數表


 *該產品或參數可根據客戶需求靈活配置。




測試示例1




集成化主機(配置不同有所變更)



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