熱門產品:瞬態光電壓/光電流系統 電緻發光測量系統 熒光光譜儀 吸收光譜儀 超快光譜系統 超分辨光譜系統 激光器 納米紅外光譜系統
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FlyTOF
飛行時間法遷移率測量系統
Time-of-Flight Mobility Measurement System
一、系統介紹
FlyTOF飛行時間法遷移率測量系統是東譜科技HiTran瞬態綜合光電特性測量平台中的重要成員。該系統利用飛行時間法(time-of-flight, TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性,廣泛適用於各類半導體材料,如有機半導體、金屬-有機框架(metal-organic framework, MOF)、共價有機框架(covalent organic framework, COF)、鈣鈦礦材料等。FlyTOF系統是一款高度集成化的光電測試系統,配備便捷的上位機控製和數據測量軟件,可助力客戶進行快速、準確的測量。
二、產品特點
三、系統典型參數表
*該產品或參數可根據客戶需求靈活配置。
測試示例1
集成化主機(配置不同有所變更)