熱門產品:光譜儀,納米紅外光譜儀,太陽模擬器,色彩亮度計
光電一體化時間分辨光譜儀HiLight
自主研發的業內首款光電一體化時間分辨光譜儀,可以對各類型的光緻(熒光、磷光、、延遲熒光等)和電緻發光樣品進行全面的穩、瞬態測試分析,可在200 nm 至5500 nm寬波長、2.5 ns至1200 s寬時域範圍上對微弱發光信號進行精準測量
寬時域時間分辨單光子計數儀HiTime
同時具有TCSPC、多通道定標以及穩態單光子計數等功能,廣泛應用於熒光和磷光壽命的測量,實現亞納秒至毫秒級別的壽命測試,具有皮秒級別的時間分辨率,在材料科學、生命科學、醫學、環境檢測等領域有廣泛的應用。
激光閃光光解系統(納秒瞬態吸收)
測量材料在納秒時間尺度上的光學信息,如時間分辨納秒瞬態吸收等。
Abberior RESOLFT超分辨顯微成像系統
能量低、高速、超分辨一體尤其適用於活細胞成像
ONI新一代超分辨熒光顯微鏡Nanoimager---PALM/dSTORM技術
新型的單分子顯微鏡,一款無需校準、無需光學平台、超小型台式超分辨顯微鏡。突破傳統光學的衍射極限,分辨率可達20nm,是全球第一台大視野單分子FRET顯微鏡,熒光共振能量轉移,熒光生物成像,
飛秒熒光上轉換系統
利用非線性晶體和頻技術,測量熒光材料在飛秒時間尺度上的光學信息。
超快泵浦探測系統(飛秒瞬態吸收)
測量材料在飛秒時間尺度上的光學信息,如時間分辨飛秒瞬態吸收等。
Anasys 納米紅外&掃描近場光譜和成像系統
同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術。儀器的空間分辨率達到10nm,廣泛用於各種聚合物、有機無機複合材料、生物樣本、半導體、等離子體、納米天線等。
Anasys nanoIR2-FS 快速掃描納米紅外光譜
快速掃描納米紅外光譜FS—納米尺度紅外光譜解決方案
Mirage 共聚焦紅外顯微鏡
Mirage基於Anasys專利的光熱紅外光譜技術,突破光學衍射極限,具有亞微米級空間分辨率,建立了傳統紅外光譜顯微鏡和納米紅外光譜之間的橋梁。
Zetium X射線熒光光譜儀-集多種X射線分析的硬件和軟件技術於一體
可在一台儀器上可實現掃描式X射線波長色散分析、X射線能量色散分析、X-射線聚焦微小區域分析、專用遊離氧化鈣X射線衍射分析
能量色散型X射線熒光分析裝置EDX-8100
無需液態氮,高靈敏度!高速!高分辨率!徹底追求通用性!
能量色散X射線熒光光譜儀EDX-LE Plus
專用於RoHS/ELV/法規限製的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子製冷(SDD檢測器)檢測器,因此在實現降低運作成本和更易維護的同時,以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。
單道掃描型波長色散X射線熒光光譜儀AxiosmAX
全新設計的高壓發生器,結合緊湊、完美的光學系統,高效分光晶體,直接光學定位控製的測角儀(DOPS2),雙多道分析器高速計數電路(DMCA),自動進樣器可以擴展到168位。精密穩定的溫度控製系統,確保測量結果的長期穩定性,幾乎無需儀器的再校準。由於采用Hi-Per固定通道,明顯改善了超輕元素和微量元素的分析靈敏度。
SPECTROMAXx台式、落地式直讀光譜儀
SPECTROMAXx台式、落地式直讀光譜儀,全元素分析的專家:適用於鑄造廠,金屬加工企業的多種基體,進出廠金屬材料以及汽車和機械製造等企業的應用
SPECTROLAB火花直讀光譜儀
用於各種金屬材料中各種化學元素的精確成分分析。用於原材料檢驗,冶煉生產過程成分控製,成品元素成分定值及其它特殊應用。最多可配置4個光學室,96個分析通道,可分析氮、氫、氧等氣體元素。
SK-2002B 氫化法-火焰法聯用原子熒光光譜儀
SK-2002B火焰法-氫化法聯用原子熒光光譜儀特有的雙檢測器系統拓寬了檢測元素範圍,可進行As(砷)、Sb(銻)、Bi(鉍)、Pb(鉛)、Sn(錫)、Te(碲)、Se(硒)、Zn(鋅)、Ge(鍺)、Cd(鎘)、Hg(汞),Au(金)、Ag(銀)、Cu(銅)、Fe(鐵)、Co(鈷)、Ni(鎳)、Cr(鉻)、Mn(錳)、In(銦)20種元素的痕量分析檢測。
SK-880 火焰原子熒光光譜儀(痕量金測試儀)
SK-880具有專利技術的背景扣除功能,是專為地質找礦系統測試微量金所研製的儀器。該款儀器具有靈敏度高,測試速度快,測試成本低等特點。可滿足地質冶金行業對於小於0.1ppb微量金的測試需求。
SK-樂析 原子熒光光譜儀(原子熒光光度計)
原子熒光主機減小了光源與PMT的激發角度,既增加了接收熒光信號強度,又降低了背景幹擾,從而提高儀器靈敏度。 采用半透明耐腐蝕的ABS磁吸結構的儀器前門, 避免了外部空氣的繞動幹擾, 同時可在線觀察測試過程的化學反應情況。 電路上增加分道信號控製模塊, 雙道同時測定時, 即使在樣品中兩元素濃度差異很大的情況下仍能保證無道間幹擾。 特別適用於樣品量較大雙道同時測定的檢測部門。
Agilent 5110 ICP-OES 等離子體發射光譜儀
Agilent 5110 ICP-OES 等離子體發射光譜儀