拉曼-原子力顯微鏡(Raman-AFM)

基於拉曼、表面增強拉曼散射(SERS)以及AFM的聯用

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針尖增強拉曼散射 (TERS) 方法是基於拉曼、表面增強拉曼散射(SERS)以及AFM的聯用。利用納米尺度的膠體顆粒或粗糙金屬襯底的表面等離子體共振,SERS可以探測到百萬分之一(ppm)數量級的化學樣品,因而長期以來一直被用於增強微弱的拉曼信號。

TERS的增強原理和SERS相同,但是TERS是使用金屬包覆的AFM針尖作為觸角來增強與針尖接觸區域樣品的拉曼信號。由於AFM針尖是納米尺度的,所以可以獲得納米尺度範圍的局域增強。通過區分TERS和常規拉曼散射(針尖離開樣品),可以獲得直徑<100nm區域內的拉曼信息。LabRAM 納米拉曼平台與最先進的AFM聯用,再加上拉曼專業技術,可以放心地進行TERS探索性實驗。

TERS已經應用於很多不同的領域,它突破了共焦拉曼儀器以前所受到的微米級別光學衍射極限限製,開啟了顯微分析和成像的新局面。

 

碳納米管的共點拉曼和AFM成像

 

快速共焦拉曼成像可以輕易地從其他類型碳中找到單根的碳納米管,而AFM可提供形貌及其他物理參數(例如電導率或熱能信息)。上圖中采集的區域為10um×10um底部雙端口配置既可以對透明樣品也可以對不透明樣品實現TERS和共點測量。它還可以實現透射模式的近場光學技術(SNOMNSOM)。





三端口配置則將所有配置都優化整合到一個獨特的平台中,以提供最多種優化功能。

  • AFM-拉曼耦聯配置:HORIBA Scientific拉曼技術可與大多數頂尖的AFM製造商供應的掃描探針顯微鏡(SPM)進行耦合,構建一個功能強大且靈活的AFM-拉曼平台。可根據期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器。 所有具備激光掃描技術的配置都可以通過對掃描探針上的激光反射進行快速成像或者根據針尖增強拉曼散射信號對熱點進行成像,因而該配置能夠準確、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上。高通量的光信號收集和檢測硬
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