Anasys 納米紅外&掃描近場光譜和成像系統

同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術。儀器的空間分辨率達到10nm,廣泛用於各種聚合物、有機無機複合材料、生物樣本、半導體、等離子體、納米天線等。

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                                    石墨烯表面等離子體的近場相位和振幅成像;優於10nm的光學成像


PTFEnano FTIR光譜顯示相幹分子振動時域圖(上圖),和相應的近場光譜(下左圖)。pNTP分子層的近場光譜(圖下右)。


Anasys 納米紅外&掃描近場光譜和成像系統
同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術。儀器的空間分辨率達到10nm,廣泛用於各種聚合物、有機無機複合材料、生物樣本、半導體、等離子體、納米天線等。
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