Anasys 納米紅外&掃描近場光譜和成像系統
同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術。儀器的空間分辨率達到10nm，廣泛用於各種聚合物、有機無機複合材料、生物樣本、半導體、等離子體、納米天線等。
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石墨烯表面等離子體的近場相位和振幅成像；優於10nm的光學成像
PTFE的nano FTIR光譜顯示相幹分子振動時域圖（上圖）,和相應的近場光譜（下左圖）。pNTP分子層的近場光譜（圖下右）。
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