飛行時間法遷移率測量系統-FlyTOF

利用時間飛行度越法(TOF)測量半導體材料的遷移率,該方法一般用於測量相對較小的遷移率10^-9~10 cm2/(V·s)材料,如有機/聚合物材料等。

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FlyTOF

飛行時間法遷移率測量儀

Time-of-Flight Mobility Measurement System 



   

FlyTOF飛行時間法遷移率測量儀是東譜科技HiTran瞬態綜合光電特性測量平台中的重要成員。該系統利用飛行時間法(time-of-flight,TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性,廣泛適用於各類半導體材料,如有機半導體、金屬-有機框架(metal-organic framework, MOF)、共價有機框架(covalent organic framework,COF)、鈣鈦礦材料等。FlyTOF系統是一款高度集成化的光電測試系統,配備便捷的上位機控製和數據測量軟件,可助力客戶進行快速、準確的測量。


主要應用

  • 有機半導體

(Organic semiconductor materials)

  • 金屬-有機框架

(metal-organic framework, MOF)

  • 共價有機框架

(covalent organic framework, COF)

  • 鈣鈦礦材料

(Perovskite materials)

  • 其它半導體材料

(Other semiconductor materials)



主要功能

  • 半導體材料遷移率測量
  • 變溫測量



特點


  • 專業的信號調教,電磁兼容噪聲小;
  • 軟件自動控製,測試快速便捷;
  • 快速換樣裝置,惰性氣體氛圍測試;
  • 可實現寬溫度範圍的變溫測試(選配);
  • 可靈活耦合各種類型的激發光源;
  • 測試過程由軟件控製,操作便捷;  
  • 可集成其他定製功能。




系統典型參數:


  1. 可選激發光源:OPO激光器,氮氣激光器,半導體激光器
  2. *數據采集模塊: 1 GS/s - 10 GS/s sampling
  3. *偏壓電源
  4. 氣體氛圍
  5. 可視化系統
  6. 多通道測試
  7. ......




    部分產品或參數可根據客戶需求靈活配置,詳情聯系工程師

   測樣可撥打電話:梁工 13527850585




測試數據示例1:



測試數據示例2:







瞬態綜合光電特性測量平台典型用戶:華南師範大學、太原理工大學、江西師範大學、華南理工大學、華中科技大學...



飛行時間法遷移率測量系統-FlyTOF
利用時間飛行度越法(TOF)測量半導體材料的遷移率,該方法一般用於測量相對較小的遷移率10^-9~10 cm2/(V·s)材料,如有機/聚合物材料等。
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