飛行時間法遷移率測量系統FlyTOF

利用飛行時間法(Time-of-Flight,TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關
的光電特性, 廣泛適用於各類半導體材料, 如有機半導體、金屬- 有機框架、共價有機框架、鈣鈦礦材料等,該方法一般用於測量相對較小的遷移率10^-9~10 cm2/(V·s)材料,如有機/聚合物材料等。

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系統簡介

FlyTOF飛行時間法遷移率測量儀是東譜科技HiTran瞬態綜合光電特性測量平台中的重要成員。該系統利用飛行時間法(time-of-flight,TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性,廣泛適用於各類半導體材料,如有機半導體、金屬-有機框架(metal-organic framework, MOF)、共價有機框架(covalent organic framework,COF)、鈣鈦礦材料等。FlyTOF基於我司的MagicBox主機研製而成,是一款高度集成化的光電測試系統,配備便捷的上位機控製和數據測量軟件,可助力客戶進行快速、準確的測量。


主要應用


  • 有機半導體

(Organic semiconductor materials)

  • 金屬-有機框架

(metal-organic framework, MOF)

  • 共價有機框架

(covalent organic framework, COF)

  • 鈣鈦礦材料

(Perovskite materials)

  • 其它半導體材料

(Other semiconductor materials)


主要功能




系統特點



規格型號



測試示例





飛行時間法遷移率測量系統FlyTOF
利用飛行時間法(Time-of-Flight,TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關
的光電特性, 廣泛適用於各類半導體材料, 如有機半導體、金屬- 有機框架、共價有機框架、鈣鈦礦材料等,該方法一般用於測量相對較小的遷移率10^-9~10 cm2/(V·s)材料,如有機/聚合物材料等。
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