飛行時間法遷移率測量系統FlyTOF
利用飛行時間法(Time-of-Flight，TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關
的光電特性， 廣泛適用於各類半導體材料， 如有機半導體、金屬- 有機框架、共價有機框架、鈣鈦礦材料等，該方法一般用於測量相對較小的遷移率10^-9~10 cm2/(V·s)材料，如有機/聚合物材料等。
系統簡介
FlyTOF飛行時間法遷移率測量儀是東譜科技HiTran瞬態綜合光電特性測量平台中的重要成員。該系統利用飛行時間法(time-of-flight，TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性，廣泛適用於各類半導體材料，如有機半導體、金屬-有機框架（metal-organic framework, MOF）、共價有機框架（covalent organic framework,COF）、鈣鈦礦材料等。FlyTOF基於我司的MagicBox主機研製而成，是一款高度集成化的光電測試系統，配備便捷的上位機控製和數據測量軟件，可助力客戶進行快速、準確的測量。
主要應用
- 有機半導體
（Organic semiconductor materials）
- 金屬-有機框架
（metal-organic framework, MOF）
- 共價有機框架
（covalent organic framework, COF）
- 鈣鈦礦材料
（Perovskite materials）
- 其它半導體材料
（Other semiconductor materials）
主要功能
系統特點
規格型號
測試示例
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詢盤
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銷售 2186302749
