絕對法電緻發光特性測量系統HiYield

以一流的檢測精度對電緻發光器件進行縱深測量,得到全面的絕對法測量的電緻發光效率參數以及相關的輻射度學、光度學、色度學等參數。該系統配有功能豐富、操作便捷的測試軟件,具有實時測量、預測量、定製測量、掃描測量等豐富的測量模式,圖表和數據實時顯示,可以快速、可靠對樣品的測試過程進行追蹤。HiYield系統可以應用於各種類型的電緻發光器件。

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產品介紹    


HiYield絕對法電緻發光特性測量系統是東譜科技UltralLum綜合發光特性測量平台中的重要成員,用於對電緻發光樣品的發光特性進行精確測量。

HiYield系統能夠以一流的檢測精度對電緻發光器件進行縱深測量,得到全面的絕對法測量的電緻發光效率參數以及相關的輻射度學、光度學、色度學參數該系統配有功能豐富、操作便捷的測試軟件,具有實時測量、預測量、定製測量、掃描測量等豐富的測量模式,圖表和數據實時顯示,可以快速、可靠對樣品的測試過程進行追蹤。

HiYield系統可以應用於量子點發光二極管(QLED)有機發光二極管(OLED)發光二極管(LED)鈣鈦礦發光二極管(PeLED)等各種類型的電緻發光器件。


系統組成



*部分產品可根據客戶需求靈活配置






測試實例



LED、OLED、PeLED等更多樣品測試數據可聯系工程師





典型用戶:華南理工大學、廣東工業大學...




*部分產品可根據客戶需求靈活配置






絕對法電緻發光特性測量系統HiYield
以一流的檢測精度對電緻發光器件進行縱深測量,得到全面的絕對法測量的電緻發光效率參數以及相關的輻射度學、光度學、色度學等參數。該系統配有功能豐富、操作便捷的測試軟件,具有實時測量、預測量、定製測量、掃描測量等豐富的測量模式,圖表和數據實時顯示,可以快速、可靠對樣品的測試過程進行追蹤。HiYield系統可以應用於各種類型的電緻發光器件。
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