光電一體化時間分辨光譜儀HiLight

自主研發的業內首款光電一體化時間分辨光譜儀,可以對各類型的光緻(熒光、磷光、、延遲熒光等)和電緻發光樣品進行全面的穩、瞬態測試分析,可在200 nm 至5500 nm寬波長、2.5 ns至1200 s寬時域範圍上對微弱發光信號進行精準測量

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系統簡介

HiLight是東譜科技自主研發的業內首款光電一體化時間分辨光譜儀,可以對各類型的光緻(熒光、磷光、延遲熒光等)和電緻發光樣品進行全面的穩、瞬態測試分析,可在200 nm 5500 nm、寬波長、2.5 ns1200 s寬時域範圍上對微弱發光信號進行精準測量。基於其光電一體的獨特優勢,HiLight可同時用於材料與器件的研究,從而極大地拓展了傳統熒光光譜儀的適用範圍。基於模塊化的設計理念,HiLight可以提供靈活的配置方案,以適應多樣化的測試需求,可廣泛應用於材料科學、分析科學、生物醫藥、食品科學、石油化工、地質學、考古、法醫學等領域。



系統優勢


  • 模塊化設計,豐富的配置可供選擇,易升級維護

  • 光電一體,材料與器件研究的雙重利器

  • 能夠以超寬時域與波長範圍解構瞬態光緻/電緻發光的動力學信息

  • 寬時域時間分辨技術:2.5 ns - 1200 s 

  • 寬波長範圍可選:200 - 5500 nm

  • 智能自動樣品裝置,助力快速測量

  • 多種光源、光柵、探測器可選

  • 全反射式光路設計,影像校準技術

  • 配置SpectraHub軟件,功能豐富,操作簡便


主要功能


規格參數



光電一體化時間分辨光譜儀HiLight
自主研發的業內首款光電一體化時間分辨光譜儀,可以對各類型的光緻(熒光、磷光、、延遲熒光等)和電緻發光樣品進行全面的穩、瞬態測試分析,可在200 nm 至5500 nm寬波長、2.5 ns至1200 s寬時域範圍上對微弱發光信號進行精準測量
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