光電一體化時間分辨光譜儀HiLight
自主研發的業內首款光電一體化時間分辨光譜儀，可以對各類型的光緻（熒光、磷光、、延遲熒光等）和電緻發光樣品進行全面的穩、瞬態測試分析，可在200 nm 至5500 nm寬波長、2.5 ns至1200 s寬時域範圍上對微弱發光信號進行精準測量
系統簡介
HiLight是東譜科技自主研發的業內首款光電一體化時間分辨光譜儀，可以對各類型的光緻（熒光、磷光、延遲熒光等）和電緻發光樣品進行全面的穩、瞬態測試分析，可在200 nm 至5500 nm、寬波長、2.5 ns至1200 s寬時域範圍上對微弱發光信號進行精準測量。基於其光電一體的獨特優勢，HiLight可同時用於材料與器件的研究，從而極大地拓展了傳統熒光光譜儀的適用範圍。基於模塊化的設計理念，HiLight可以提供靈活的配置方案，以適應多樣化的測試需求，可廣泛應用於材料科學、分析科學、生物醫藥、食品科學、石油化工、地質學、考古、法醫學等領域。
系統優勢
- 模塊化設計，豐富的配置可供選擇，易升級維護
- 光電一體，材料與器件研究的雙重利器
- 能夠以超寬時域與波長範圍解構瞬態光緻/電緻發光的動力學信息
- 寬時域時間分辨技術：2.5 ns - 1200 s
- 寬波長範圍可選：200 - 5500 nm
- 智能自動樣品裝置，助力快速測量
- 多種光源、光柵、探測器可選
- 全反射式光路設計，影像校準技術
- 配置SpectraHub軟件，功能豐富，操作簡便
主要功能
規格參數
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