多通道電緻發光特性測量系統EL-Lab

利用該系統組件的分布特性,可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量,且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能,從而可以適應豐富的測量場景,如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。

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系統簡介

EL-Lab 分布式電緻發光特性測量系統是東譜科技HiOE 綜合發光特性測量平台中的重要成員,與東譜科技的絕對法電緻發光特性測量系統HiYield 共同為行業提供了完善的電緻發光的測量方案。


EL-Lab 系統由一系列相應的分布測量組件組成,包括光電測量模塊、亮度校準模塊、光譜測量模塊等。利用該系統組件的分布特性,可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量,且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能,從而可以適應豐富的測量場景,如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。


主要應用

主要功能

系統特點

規格參數

測試示例


多通道電緻發光特性測量系統EL-Lab
利用該系統組件的分布特性,可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量,且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能,從而可以適應豐富的測量場景,如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。
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